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              潔凈室粒子沉積測試

              更新時(shí)間:2020-08-26  |  點(diǎn)擊率:1553

              粒子沉積測試在國外某些高級(jí)別潔凈室頗受重視。因?yàn)橥ㄟ^此項(xiàng)測試,可以讓用戶了解可能沉積到潔凈室工作表面或產(chǎn)品上的空氣中懸浮粒子的數(shù)量與粒子粒徑,這對(duì)于分析產(chǎn)品的成品率有較高的參考價(jià)值。
              其檢測的方式是用表面特性與生產(chǎn)中所關(guān)注的表面相類似的測量采樣板,在潔凈室內(nèi)收集沉積粒子。再用光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡或表面掃描儀確定沉積粒子的粒徑與數(shù)量;也可以用粒子沉降光度計(jì)獲得粒子沉積率的數(shù)據(jù)。后以每單位表面面積在單位時(shí)間內(nèi)的粒子質(zhì)量或數(shù)目來表示沉積粒子的數(shù)據(jù)。
              1、測量采樣板上沉積粒子的獲取方法
              根據(jù)ISO 14644規(guī)定,測試中測量采樣板應(yīng)放置在與存在工藝污染風(fēng)險(xiǎn)表面的同一平面上,要維持測試采樣板的電勢與所關(guān)注的測試表面相同,以排除因靜電勢不同而引起粒子沉積的差異,影響到測試結(jié)果的可靠性。
              具體的操作遵循以下程序和方法:
              (1)驗(yàn)證潔凈室各相關(guān)系統(tǒng)都在按要求正常運(yùn)行;
              (2)按要求清潔測量采樣板,將其表面粒子濃度減少到低水平。并在測試前測定各個(gè)標(biāo)注有明顯標(biāo)識(shí)的測量采樣板上的粒子的背景濃度;
              (3)留下20%的測量采樣板作對(duì)比用。所留下的這些采樣板與現(xiàn)場采樣的測量采樣板的處理方式*相同;
              (4)將測量采樣板放置到潔凈室規(guī)定的位置上。在運(yùn)送到測試位置的過程中要防止空氣中懸浮粒子污染測試采樣板表面;
              (5)在潔凈室內(nèi)規(guī)定位置上暴露測量采樣板,以在測量采樣板上得到足夠的粒子沉積量,足以獲得從統(tǒng)計(jì)學(xué)角度的有效數(shù)據(jù)為原則。暴露時(shí)間依潔凈室類型、運(yùn)行方式和所使用的粒子計(jì)數(shù)儀器而定;
              (6)而用作對(duì)比用的20%測量采樣板,則應(yīng)存放在密閉容器中以防止被污染。
              2、測量采樣板上沉積粒子的計(jì)數(shù)和粒徑確定
              如果使用光學(xué)顯微鏡,可以用校準(zhǔn)過的線性或圓形量度板進(jìn)行粒徑測量。如果使用電子顯微鏡,可以用經(jīng)過校準(zhǔn)的已知線距的光柵,對(duì)照實(shí)際粒徑與圖像尺寸在確定粒子尺寸。如果用表面掃描儀,可用廠商提供的粒徑校準(zhǔn)資料,進(jìn)行各粒徑計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)。
              測量采樣板上部分面積的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù),可以外推到整個(gè)采樣板,這樣就可統(tǒng)計(jì)由各測量采樣板總面積上的粒子總數(shù)(Nt)以及按粒徑范圍的分類。各測量采樣板表面沉積的粒子濃度按下式計(jì)算:
              Di=(Nt-Nb)/Aw
              式中,Di為當(dāng)設(shè)有多個(gè)測量采樣板時(shí)第i個(gè)測量采樣板所測得的粒子表面沉積濃度,pcs/cm2
                 Nt為第i個(gè)測量采樣板上的粒子總數(shù);
                 Nb為第i個(gè)測量采樣板暴露于潔凈室環(huán)境之前采樣板上殘存的粒子總數(shù),以未暴露的20%測量采樣板的平均值為準(zhǔn);
                  Aw為第i個(gè)測量采樣板的表面積,cm2
              潔凈室或潔凈設(shè)施的粒子沉積率用平均粒子表面沉積濃度除以暴露時(shí)間。
              3、測量采樣板材料與測試儀器
              (1)測量采樣板材料
              依據(jù)所要檢測的粒徑以及測量的儀器與方法不同,可選擇以下材料:微孔薄膜過濾器;雙面膠帶;培養(yǎng)皿;帶有對(duì)比色(一般為黑色)的聚酯培養(yǎng)皿;照相膠片;顯微鏡膠片;玻璃或金屬鏡片;半導(dǎo)體晶片坯料;玻璃光掩膜基片。
              測量板的表面光滑度與待計(jì)數(shù)的粒子粒徑相適應(yīng),保證易于看到粒子,所采用的測量手段與方法應(yīng)能分辨出沉積在采樣板上的小粒徑。
              (2)測量儀器
              根據(jù)要求測量的沉積粒子粒徑范圍的不同,可分別采用以下幾種儀器,選擇儀器時(shí)還要考慮收集、分析樣品要求的時(shí)間等因素。
              粒徑≥2um時(shí),可采用光學(xué)顯微鏡;粒徑≥0.1um時(shí),采用表面分析掃描儀;粒徑≥0.02um時(shí),可采用電子顯微鏡。
              4、測試報(bào)告
              除去測試報(bào)告常規(guī)的各項(xiàng)內(nèi)容以外還應(yīng)報(bào)告:
              (1)儀器操作者或數(shù)據(jù)收集設(shè)施的名稱;
              (2)測試儀器的名稱或數(shù)據(jù)處理設(shè)施的名稱;
              (3)測試和測量類型、測量條件;
              (4)測量點(diǎn)的位置;
              (5)測量采樣時(shí)潔凈室和潔凈設(shè)施所處的狀態(tài)。

               

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